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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子/電池 |
反射膜厚測試儀Film5
無需對焦操作適配弧面平面樣品簡便、精確......
豐富的材料數據庫
軟件內置各類材料折射率數據。便于選擇膜層材料與鏡片基材,以更準確的膜厚計算。
極簡的一體式設計
手持探頭座可用于保護探頭與防塵,并兼容做光源初始化校正。標準校準片置于機器頂蓋,方便日常校準操作,倒扣即可防塵存放。集成光譜儀、測量光源、測量探頭的一體式主機,滿足各種測試場景。靈活使用。
殘余顏色顯示計算
精確測量計算膜層反射殘余顏色,并用CIEL*a*b*和CIExy表示。支持導入標準樣品對比色差。
自適應多種表面形態測試
伸縮式接測量光學探頭,可以適應鏡片凹面、凸面、球柱面、平面等各種表面測試。特殊處理的接觸探頭,可有效避損傷鏡片表面膜層。

Film5 技術參數:
波長范圍:380nm ~ 850nm
光源:內置氙氣鹵素燈
反射比測定方法:標準物質對比計算絕對反射比
光譜儀波長準確度:<0.5nm
厚度測量范圍:0.05~50μm
反射比范圍:0~100%
準確度:0.01μ 或者 0.2%(以較大值為準)
膜厚測量精度:0.001μm
膜厚測量重復值:0.001μm
光斑尺寸:100μm
設備數據接口:USB Type B
軟件運行系統:Windows 10、11
電源適配器:輸入 85~264V AC, 輸出 5V3A
主機尺寸:170 (W)*150 (D)*100 (H) mm
凈重:2Kg
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